DISPLAY ENGINEERING / MEASURED DATA

模组翘曲实测学习工作台

厂家与原卷 → 组配参数 → 七点预测

连接在线数据库…
背板朝上测量 · 上 0° / 下 90°

01 选择组配

上 POL吸收轴 0°
下 POL吸收轴 90°
正在核对实测数据并计算…

03 实测值

保存即训练

关联上方当前组配及原卷。沿 P1 → P7 输入,0 是真实接触;没测的位置留空。

04 数据与验证

样本 / 误差 / 训练
实测记录与模型验证
查看原始样本与异常处理

原始值保留。偏离同组中心的样本仅降权;停用可恢复。

组配 / 机种样品P1P2P3P4P5P6P7最大值处理
计算口径与数据范围

现有组配显示七点实测的稳健中心值及片间 P10–P90 范围;新组配使用原卷共享的响应回归估算。两类结果明确区分,不将同组拟合误差当作新机种预测精度。

拟合不使用 POL 叠层。尺寸、Glass 与背板厚度、湿度参与尺度修正;Bent / Flat 保留为组配条件,其 PCB 回弹尚无独立辨识。氧化物裸 Cell、贴附和装配的综合影响包含在实测中,不能全部归因于吸湿。

上 POL 作用更大按用户经验设为正则化先验:上下卷无法分离时倾向 2:1 分摊;该比例不是实测结论。结果统一折算到 14 英寸、16:10、Glass 0.2 mm、背板 0.2 mm,每 1 个 RH 百分点的等效七点响应(μm/%RH)。湿度线性关系只是当前近似,非吸湿等温线。

验证按整个组配留出,厚度尺度参数在每个训练折内再次选择。缺少已知原卷的留出组不强行预测,另列覆盖率。样本不是跨批次独立试验,仍需新增机种验证。

NIST:异常值与稳健统计 · 吸湿膨胀与含水量的区别

厂家与原卷材料

同一原卷的不同组配共用学习记录。移除仅隐藏选项,历史样本仍然保留。